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锡膏测厚仪,炉温测试仪,分板机等

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2 D精密锡膏测厚仪
点击图片查看原图
产品: 浏览次数:6632 D精密锡膏测厚仪 
品牌: TESHERCK
规格: SH—110Ⅱ
单价: 面议
最小起订量: 1 台
供货总量: 10 台
发货期限: 自买家付款之日起 5 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2010-11-16 11:05
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详细信息

一、技术参数:
测量原理:非接触式,激光线             测量精度:±0.002mm
重复测量精度:±0.004mm                基座尺寸:324mm×320mm
移动平台:X、Y电磁锁闭平台可任意移动,并附微调把手
移动平台尺寸:320mm×320mm              移动平台行程:230mm×200mm
影像系统:高清彩色CCD摄像头           光学放大倍率:30-110X (5档可调)
测量光线:可低至5
µm高精度激光束       电源:95-265V AC, 50-60Hz
系统尺寸:372(L)×557(W)×462(H)mm     系统重量:约30Kg(不含电脑重量)
照明系统:高亮度环形LED光源 (电脑控制亮度调节)
测量软件: SH-110II/SPC2000 (Windows 2000/XP)中文简体版,英文版
本机是由新加坡联合大学开发生产,并采用美国制造的精密激光线发生器,最细线粗可达5微米亮度可调整,是目前同类系统使用的最细激光线,保证了测量的精度和稳定性. 软件有英文版,简体中文版。
二、应用领域:
锡膏厚度测量
面积、体积、间距、角度、长度、宽度、园弧、不规则形状等所有几何测量
锡膏厚度、PCB板上油墨、线路、焊盘高度、尺寸测量、零件脚共平面度测量
影像捕捉,视频处理,文件管理
SPC、CPK、CP统计、分析、报表输出
询价单
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